Defektprüfung und Vermessung

Systeme zur Defektprüfung und Vermessung
transparenter Artikel und glänzender / reflektierender Oberflächen

Die Wahl des geeignetsten Systemkonzepts richtet sich im Wesentlichen nach den Eigenschaften des Prüflings. Die erste Frage dabei ist:


Genügt ein einfaches Kamerasystem zur Prüfung?


Für die beiden hier betrachteten Inspektionsaufgaben bedeutet dies konkret:

Nur transparentes Volumen

  • Die Tiefenausdehnung ist relativ gering, so dass die Schärfentiefe einer Kamera zur Abbildung der interessierenden Strukturen ausreicht.
  • Der Prüfling kann so geführt / abgelegt werden, dass das Prüfvolumen sicher im Schärfentiefebereich liegt.

Glänzende / reflektierende Oberflächen

  • Die Oberfläche ist eben.
  • Die Oberfläche kann so fixiert / geführt werden, dass die Schärfentiefe einer Kamera zur Abbildung der interessierenden Strukturen ausreicht
  • Keine Transparenzprüfung erforderlich

Sind diese Kriterien erfüllt empfehlen wir ein Kamerasystem eines anderen Anbieters.


Für alle anderen Fälle sollten Sie einen unserer bildgebenden Defektscanner in Betracht ziehen. Sie profitieren mit unseren Systemen in jedem Fall von:

  • der extrem großen Schärfentiefe (im Vergleich zu Kameras)
  • der großen Unabhängigkeit von Fremdlicht
  • der einfachen und intuitiven Justage


Für eine reine Defektprüfung ohne Extra- oder Extremanforderung (z.B. Detektion sehr feiner Strukturen < Laser-Strahldurchmesser) empfehlen wir unsere Retroreflex-Laserscanner, mit denen optional auch Materialprüfungen

oder Messungen der Abzugskraft von Rohren oder Stäben  durchführbar sind. Sie sind einfach zu installieren und tolerieren Brechkräfte bzw. robust gegen Krümmungen der Oberflächen.


Prinzip der Retroreflex-Transmissionsprüfung

Prinzip der Retroreflex-Reflexionsprüfung

In den folgenden Fällen können zusätzliche Extremanforderungen erfüllt werden.

Transmissionsprüfung


für Objekte mit schwachen Brechkräften (Ablenkung eines Laserstrahls) wie z.B. Windschutzscheiben.

In diesem Fall kann eine separate Empfängereinheit  mit einem zusätzlichen Dunkelfeldkanal verwendet werden.

Dieser erlaubt die Detektion von (ultra-) feinen Defekten.


Mit einer optionalen Polarisationsauswertung können die Materialeigenschaften großflächig polarimetrisch untersucht werden. Alle Möglichkeiten, welche die bekannten Verfahren der Polarimetrie für die Materialcharakterisierung bieten, können zur Untersuchung der Prüflinge eingesetzt werden.

Reflexions-Prüfung


für (nahezu) ebene Oberflächen (nahezu konstanter Einfallswinkel eines Laserstrahls auf die Oberfläche) 

Mit einer optionalen Polarisationsauswertung können die Materialeigenschaften großflächig ellipsometrisch untersucht werden. Prinzipiell können alle Möglichkeiten, welche die bekannten Verfahren der Ellipsometrie für die Materialcharakterisierung bieten, zur Untersuchung der Prüflinge eingesetzt werden.


Senden Sie uns Ihre Proben für erste unverbindliche Test oder lassen Sie sich durch eine Gerätevorführung in Ihrem Haus überzeugen!


Gerne passen wir unsere Sensoren auch an Ihre Bedürfnisse an oder entwickeln für Sie neue Funktionen.

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